Automatisierung eines RF/DC Inkmeßplatzes
Für die Firma Infineon Technologies wurde eine Software in HP VEE erstellt, die es erlaubt, alle Systeme eines Wafers vollautomatisch zu testen. Die Systeme des Wafers werden automatisch angefahren, kontaktiert und vermessen. Dabei werden sowohl DC- als auch RF-Messungen durchgeführt. Die Meßergebnisse werden während des Meßablaufes graphisch angezeigt und in Ergebnisdateien archiviert.
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