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Automatisierung eines RF/DC Inkmeßplatzes

Für die Firma Infineon Technologies wurde eine Software in HP VEE erstellt, die es erlaubt, alle Systeme eines Wafers vollautomatisch zu testen. Die Systeme des Wafers werden automatisch angefahren, kontaktiert und vermessen. Dabei werden sowohl DC- als auch RF-Messungen durchgeführt. Die Meßergebnisse werden während des Meßablaufes graphisch angezeigt und in Ergebnisdateien archiviert.

Inkmeßplatz zum Wafertest

Das Programm wird in der Wafer-Produktion eingesetzt. Es ist durch eine einfache Menüführung bedien- und konfigurierbar. Dabei gibt es verschiedene Zugriffsrechte. Benutzer mit hohen Rechten können die Meßabläufe und –parameter modifizieren, während Benutzer mit geringen Rechten das Meßprogramm lediglich ablaufen lassen können.

Unterstützte Hardware:
Globus HPE 5252A Switch
Globus HP 4142 DC Analyzer
Globus HP 8340A  Sweep-Synthesizer
Globus HS 8116a Pulsgenerator
Globus HP 8991A Peak Power Analyzer
Globus 2001 CXE inkl. Inker Electroglas Prober
Globus Verstärker/Koppler Eigenbau des Kunden
 
 
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